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第9节 芯片测试1(3/5)
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不说有没有缩小竞争对手的工艺,甚至加大落后竞争对手芯片制造工艺三代…,
    这样的话,很容易把一个芯片制造公司拖垮,甚至拖累一个国家的实力。
    所以说,建立芯片制造工厂的风险非常高,
    这也是李飞决定先从简单的芯片设计,f芯片设计先积累原始资本,包括资金,技术,人才,
    当积累了大量地技术人才和资金后,李飞才有实力去建芯片制造工厂!
    …
    李飞确定了台极电芯片流片的时间,大约三周的时间,芯片样品可以收到,
    这也是芯片流片合理地时间,李飞感到满意。
    确定芯片流片的时间后,李飞就开始准备芯片测试的工作,
    关于芯片的测试不包括芯片的生产制造测试,只是针对芯片设计的测试,大概分为两种类型测试:
    1芯片功能测试:
    例如测试f收音功能,功能没有实现,
    大概原因分析是在设计上导致的,在设计阶段前仿真来对功能进行验证来保证,所以通常设计一块芯片,仿真验证会占用大约80的时间。
    2芯片性能测试:
    例如测试f收音功能正常,但性能指标要求没有过关,比如f收音机的频率是:hz以上的频率时,没有电台,而且收音机噪声非常大,
    大概原因分析时是前期在设计时就没做足余量或者芯片电路设计不符合规则。
    …
    以上只是对芯片的设计测

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